Norm [AKTUELL]

NF C96-022-27 ; NF EN 60749-27:2006-12-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: electrostatic discharge (ESD) sensivity testing - Machine model (MM)

Ausgabe 2006-12-01
Originalsprache Französisch
Preis ab 90,10 €
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