Norm
[AKTUELL]
BS EN 60749-35
BS EN 60749-35
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Ultraschallmikroskopie fuer kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
