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Norm [AKTUELL]

NF C96-051 ; NF EN 62373:2006-10-01
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET)

Titel (englisch)

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Ausgabe 2006-10-01
Originalsprache Französisch
Preis ab 90,10 €
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