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Norm [AKTUELL]

BS EN 62373
Stabilitaetspruefung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung fuer Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET)

Titel (englisch)

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Ausgabe 2006-09-29

Originalsprache Englisch

Preis ab 192,70 €

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