Norm
[AKTUELL]
BS EN 62373
BS EN 62373
Stabilitaetspruefung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung fuer Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET)
Titel (englisch)
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)