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Norm [AKTUELL]

XP X06-066 ; XP ISO/TS 21749:2005-10-01
Messunsicherheit für metrologische Anwendungen - Einfache Wiederholung und geschachtelte Versuche

Titel (englisch)

Measurement and uncertainty for metrological applications - Repeated measurements and nested experiments

Ausgabe 2005-10-01
Originalsprache Englisch
Preis ab 110,40 €
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