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Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-33
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave

Ausgabe 2005-03-16

Originalsprache Spanisch

Preis ab 41,70 €

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