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Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-19
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength

Ausgabe 2003-11-21

Originalsprache Spanisch

Preis ab 36,40 €

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