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Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-16
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

Ausgabe 2003-11-21

Originalsprache Spanisch

Preis ab 49,20 €

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