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Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock.

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock.

Ausgabe 2003-05-30

Originalsprache Spanisch

Preis ab 36,40 €

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