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Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-2
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure.

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure.

Ausgabe 2003-05-30

Originalsprache Spanisch

Preis ab 41,70 €

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