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Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-11
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method.

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method.

Ausgabe 2003-05-30

Originalsprache Spanisch

Preis ab 49,20 €

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