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Norm [AKTUELL]

BS ISO 17331+A1
Chemische Analytik an Oberflächen. Chemische Methoden für die Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumscheiben-Arbeits-Referenzmaterialien und deren Bestimmung mit Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse (TXRF)

Titel (englisch)

Surface chemical analysis. Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

Ausgabe 2005-03-31

Originalsprache Englisch

Preis ab 267,20 €

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