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Norm [AKTUELL]

EIA JESD 60A
A Procedure for Measuring P-Channel MOSFET Hot-Carrier- Induced Degradation Under DC Stress

Titel (englisch)

A Procedure for Measuring P-Channel MOSFET Hot-Carrier- Induced Degradation Under DC Stress

Ausgabe 2004-09

Originalsprache Englisch

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