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Norm [AKTUELL]

ASTM E 2382
Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

Titel (englisch)

Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

Ausgabe 2004

Originalsprache Englisch

Preis ab 73,80 €

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