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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-23 ; NF EN 60749-23:2004-07-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: lebensdauer bei hoher Temperatur

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: high temperature operating life

Ausgabe 2004-07-01

Originalsprache Französisch

Preis ab 73,40 €

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