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Norm [AKTUELL]

BS EN 60749-23+A1
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Lebensdauer bei hoher Temperatur

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life

Ausgabe 2004-06-24
Originalsprache Englisch
Preis ab 161,90 €
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