Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 60749-14
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 14: Festigkeit der Bauelementeanschlüsse (Unversehrtheit der Anschlüsse) (IEC 60749-14:2003)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) (IEC 60749-14:2003)

Ausgabe 2004-08-01
Originalsprache Deutsch
Preis ab 116,88 €
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