Norm
[AKTUELL]
DIN EN 60749-24
DIN EN 60749-24
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Hochbeschleunigte Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung (IEC 60749-24:2004); Deutsche Fassung EN 60749-24:2004
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST (IEC 60749-24:2004); German version EN 60749-24:2004
Änderungsvermerk
Die im Kapitel 3, Abschnitt 4C von DIN EN 60749:2002-09 festgelegten Prüfverfahren wurden unter Berücksichtigung von IEC/PAS 62336 vollständig überarbeitet, sodass das Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm der Reihe DIN EN 60749 beschrieben werden kann.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
