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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 60749-25
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel (IEC 60749-25:2003)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling (IEC 60749-25:2003)

Ausgabe 2004-05-01

Originalsprache Deutsch

Preis ab 100,28 €

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