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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-14 ; NF EN 60749-14:2004-01-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 14: festigkeit der Bauelementeanschlüsse (Unversehrtheit der Anschlüsse)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: robustness of terminations (lead integrity)

Ausgabe 2004-01-01
Originalsprache Französisch
Preis ab 90,10 €
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