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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-25 ; NF EN 60749-25:2003-12-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: zyklische Temperaturwechsel

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: temperature cycling

Ausgabe 2003-12-01

Originalsprache Französisch

Preis ab 90,10 €

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