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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-22 ; NF EN 60749-22:2003-11-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 22: kontaktfestigkeit (Bond strength)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: bond strength

Ausgabe 2003-11-01
Originalsprache Französisch
Preis ab 105,40 €
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