Norm
[AKTUELL]
DIN EN 60749-25
DIN EN 60749-25
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel (IEC 60749-25:2003); Deutsche Fassung EN 60749-25:2003
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling (IEC 60749-25:2003); German version EN 60749-25:2003
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 60749:2002-09 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Aufteilung der Norm in einzelne Prüfnormen; b) vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 1.1, enthaltenen Prüfung. Dies betrifft sowohl das Verfahren als auch die Prüfdurchführung.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
