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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 60749-2
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck (IEC 60749-2:2002)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002)

Ausgabe 2003-10-01

Originalsprache Deutsch

Preis ab 76,61 €

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