Norm
[AKTUELL]
DIN EN 60749-1
DIN EN 60749-1
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeines (IEC 60749-1:2002 + Corr. 1:2003); Deutsche Fassung EN 60749-1:2003
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002 + Corr. 1:2003); German version EN 60749-1:2003
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 60749:2002-09 wurden folgende Änderungen vorgenommen: - die für alle Prüfverfahren zutreffenden allgemeinen Festlegungen und Messbedingungen wurden entsprechend der Bedingungen in den überarbeiteten oder neu erarbeiteten Teilen der Normenreihe DIN EN 60749 vollständig überarbeitet und in der hier vorliegenden Norm zusammengefasst.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
