Norm
[AKTUELL]
DIN EN 60749-36
DIN EN 60749-36
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 36: Gleichmäßiges Beschleunigen (IEC 60749-36:2003); Deutsche Fassung EN 60749-36:2003
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state (IEC 60749-36:2003); German version EN 60749-36:2003
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 60749:2002-09 wurden folgende Änderungen vorgenommen: - vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 2, Abschnitt 5, enthaltenen Prüfung. Dies betrifft sowohl das Verfahren als auch die Prüfdurchführung; insbesondere die Art der elektrischen Beanspruchung wurde neu festgelegt.
Dokument: zitiert andere Dokumente
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
