Norm
[AKTUELL]
NF C96-022-2
; NF EN 60749-2:2002-12-01
NF C96-022-2
; NF EN 60749-2:2002-12-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und Klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: low air pressure