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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-2 ; NF EN 60749-2:2002-12-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und Klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: low air pressure

Ausgabe 2002-12-01
Originalsprache Französisch
Preis ab 73,40 €
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