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Norm [AKTUELL]

EIA JESD 28-A
Procedure for Measuring N-Channel MOSFET Hot-Carrier-Induced Degradation under DC Stress

Titel (englisch)

Procedure for Measuring N-Channel MOSFET Hot-Carrier-Induced Degradation under DC Stress

Ausgabe 2001-12

Originalsprache Englisch

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