Norm
[AKTUELL]
DIN EN 60749-2
DIN EN 60749-2
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck (IEC 60749-2:2002); Deutsche Fassung EN 60749-2:2002
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002); German version EN 60749-2:2002
Änderungsvermerk
- vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 3, enthaltenen Prüfung, sodass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
