Norm
[AKTUELL]
DIN EN 60749-11
DIN EN 60749-11
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Rascher Temperaturwechsel; Zweibäderverfahren (IEC 60749-11:2002); Deutsche Fassung EN 60749-11:2002
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002); German version EN 60749-11:2002
Änderungsvermerk
-vollstandige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 1.2, enthaltenen Prüfung, sodass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentliche werde kann.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
