Norm
[AKTUELL]
OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2
OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001)
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001)