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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001)

Ausgabe 2002-11-01
Originalsprache Deutsch
Preis ab 220,42 €
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