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Norm [AKTUELL]

EIA JESD 57
Test Procedures for the Measurement of Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy Ion Irradiation

Titel (englisch)

Test Procedures for the Measurement of Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy Ion Irradiation

Ausgabe 1996-12
Originalsprache Englisch
Preis Auf Anfrage
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