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Norm [AKTUELL]

EIA JESD 24-7
Commutating Diode Safe Operating Area Test Procedure for Measuring DV/DT During Reverse Recovery of Power Transistors

Titel (englisch)

Commutating Diode Safe Operating Area Test Procedure for Measuring DV/DT During Reverse Recovery of Power Transistors

Ausgabe 1992-08

Originalsprache Englisch

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