Norm-Entwurf

24/30499672 DC
BS EN IEC 63550-2 Semiconductor devices - Neuromorphic devices. Part 2: Evaluation method of linearity in memristor devices

Titel (englisch)

BS EN IEC 63550-2 Semiconductor devices - Neuromorphic devices. Part 2: Evaluation method of linearity in memristor devices

Ausgabe 2024-08-30
Originalsprache Englisch
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