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Norm-Entwurf [NEU]

OVE EN IEC 63185
Messung der komplexen Dielektrizitätskonstante für verlustarme dielektrische Substrate nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren (IEC 46F/672/CDV) (englische Fassung)

Titel (englisch)

Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method (IEC 46F/672/CDV) (english version)

Ausgabe 2024-07-01

Originalsprache Englisch

Preis ab 23,03 €

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