Norm
[NEU]
ISO 5861
ISO 5861
Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronenspektrometrie - Methode der Intensitätskalibrierung für mit Quarzkristallen monochromatisierte Al Kα XPS-Geräte
Titel (englisch)
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Method of intensity calibration for quartz-crystal monochromated Al Kα XPS instruments
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie
Zuständiges internationales Arbeitsgremium
ISO/TC 201/SC 7/WG 2 - Quantifizierung und Interpretation der Daten bei der Elektronenspektroskopie
