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Norm [NEU]

NF B43-410-2 ; NF ISO 5618-2:2024-05-22
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Test method for GaN crystal surface defects - Part 2: method for determining etch pit density

Titel (englisch)

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Test method for GaN crystal surface defects - Part 2: method for determining etch pit density

Ausgabe 2024-05-22
Originalsprache Französisch
Preis ab 88,40 €
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