Norm-Entwurf

24/30492188 DC
Draft BS EN 63378-6 ED1. Thermal standardization on semiconductor packages. Part 6. Thermal resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction and measurement points

Titel (englisch)

Draft BS EN 63378-6 ED1. Thermal standardization on semiconductor packages. Part 6. Thermal resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction and measurement points

Ausgabe 2024-04-30
Originalsprache Englisch
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