Norm
[AKTUELL]
NF C96-022-5
; NF EN IEC 60749-5:2024-01-26
NF C96-022-5
; NF EN IEC 60749-5:2024-01-26
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: steady-state temperature humidity bias life test
