Norm
[AKTUELL]
BS EN IEC 60749-5
BS EN IEC 60749-5
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung
Titel (englisch)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test
