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Norm [AKTUELL]

OVE EN IEC 60749-10
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanischer Schock - Bauelemente und Unterbaugruppe ((IEC 60749-10:2022) EN IEC 60749-10:2022) (deutsche Fassung)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly ((IEC 60749-10:2022) EN IEC 60749-10:2022) (german version)

Ausgabe 2024-01-01

Originalsprache Deutsch

Preis ab 100,28 €

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OVE EN IEC 60749-10 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanischer Schock - Bauelemente und Unterbaugruppe ((IEC 60749-10:2022) EN IEC 60749-10:2022) (deutsche Fassung)

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