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Norm [AKTUELL]

SN EN IEC 60749-10
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanischer Schock - Bauelemente und Unterbaugruppe

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly

Ausgabe 2022-06
Originalsprache Englisch
Preis ab 25,80 €
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