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Norm [AKTUELL]

BS IEC 63229
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate

Ausgabe 2023-08-31

Originalsprache Englisch

Preis ab 267,20 €

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