DIN EN IEC 61215-1-4
; VDE 0126-31-1-4:2023-12
Terrestrische Photovoltaik(PV)-Module - Bauarteignung und Bauartzulassung - Teil 1-4: Besondere Anforderungen an die Prüfung von Photovoltaik(PV)-Dünnschichtmodulen aus Cu(In,Ga)(S,Se)2 (IEC 61215-1-4:2021 + AMD1:2022); Deutsche Fassung EN IEC 61215-1-4:2021 + A1:2022
Terrestrial photovoltaic (PV) modules - Design qualification and type approval - Part 1-4: Special requirements for testing of thin-film Cu(In,GA)(S,Se)2 based photovoltaic (PV) modules (IEC 61215-1-4:2021 + AMD1:2022); German version EN IEC 61215-1-4:2021 + A1:2022
Einführungsbeitrag
Dieses Dokument ist für die Anwendung auf alle terrestrischen Flachplatten-Dünnschichtmodule auf der Grundlage von Cu(In,Ga)(S,Se)2 bestimmt. Als solches behandelt es die besonderen Anforderungen an Prüfungen dieser Technologie, die die Anforderungen von IEC 61215-1:2021 und IEC 61215-2:2021 ergänzen. Dieses Dokument legt Anforderungen für die Bauarteignung terrestrischer photovoltaischer Module fest, die für den Langzeitbetrieb in Freiluftklimaten geeignet sind. Die Nutzlebensdauer der so qualifizierten Module ist abhängig von ihrer Konstruktion, der Umgebung und den Bedingungen, unter denen sie betrieben werden. Prüfergebnisse werden nicht als quantitative Vorhersage der Modullebensdauer interpretiert. Dieses Dokument legt die von der PV-Technologie abhängigen Änderungen der Prüfverfahren und Anforderungen nach IEC 61215-1:2021 und IEC 61215-2:2021 fest. Dieses Dokument gilt nicht für Module, die mit konzentriertem Sonnenlicht betrieben werden, es darf aber für schwach konzentrierende Module (ein- bis dreifache Sonneneinstrahlung) angewendet werden. Bei schwach konzentrierenden Modulen werden alle Prüfungen mit Bestrahlungsstärke-, Strom-, Spannungs- und Leistungspegeln durchgeführt, die bei der Bemessungskonzentration zu erwarten sind.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN IEC 61215-1-4 (VDE 0126-31-1-4):2022-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Ergänzung einer zyklischen (dynamischen) mechanischen Belastungsprüfung (MQT 20); b) Ergänzung einer Prüfung zum Erkennen spannungsinduzierter (potentialinduzierter) Degradation (MQT 21); c) Ergänzung einer Biegeprüfung (MQT 22) für flexible Module.
