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Norm [AKTUELL]

NF C96-287-2 ; NF EN IEC 63287-2:2023-05-12
Halbleiterbauelemente - Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne - Teil 2: Konzept des Einsatzprofils

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: concept of mission profile

Ausgabe 2023-05-12
Originalsprache Französisch
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