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Norm-Entwurf

23/30454374 DC
BS EN IEC 62047-47. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 47. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of bending strength of microstructures

Titel (englisch)

BS EN IEC 62047-47. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 47. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of bending strength of microstructures

Ausgabe 2023-04-20
Originalsprache Englisch
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