Norm [AKTUELL]

BS IEC 62373-1
Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET). Fast BTI test for MOSFET

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET). Fast BTI test for MOSFET

Ausgabe 2023-03-30
Originalsprache Englisch
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