DIN EN 61000-4-25
; VDE 0847-4-25:2023-09
Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) - Teil 4-25: Prüf- und Messverfahren - Prüfung der Störfestigkeit von Einrichtungen und Systemen gegen HEMP-Störgrößen (IEC 61000-4-25:2001 + A1:2012 + A2:2019); Deutsche Fassung EN 61000-4-25:2002 + A1:2012 + A2:2020
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-25: Testing and measurement techniques - HEMP immunity test methods for equipment and systems (IEC 61000-4-25:2001 + A1:2012 + A2:2019); German version EN 61000-4-25:2002 + A1:2012 + A2:2020
Einführungsbeitrag
Die Norm beschreibt die Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen und elektronischen Geräten (Einrichtungen) und Systemen gegenüber gestrahlten impulsförmigen Störgrößen, die von einem in großer Höhe erzeugten nuklear-elektromagnetischen Impuls (HEMP) erzeugt werden. Solche hochfrequenten impulsförmigen Störgrößen können als Folge eines in großer Höhe stattfindenden nuklearen Vorfalls stattfinden, sollte es einmal nicht gelingen, diesen zu verhindern. Die Norm legt Bereiche von Prüfschärfegraden (Prüfpegeln) und Prüfverfahren zur Störfestigkeit gegen transiente leitungsgeführte und gestrahlte Störgrößen fest. Festlegungen für die Prüfeinrichtung und den Prüfaufbau der Geräte, die Durchführung der Prüfung, die Kriterien für das Bestehen/Nicht-Bestehen der Prüfung und den Prüfbericht sind in der zu ändernden Norm ebenfalls definiert. Gegenüber DIN EN 61000-4-25 (VDE 0847-4-25):2013-01 wurde folgende Änderung vorgenommen: - Es wurden Toleranzangaben bei den Festlegungen für kleine Prüfeinrichtungen für HEMP-Störfestigkeitsprüfungen im Abschnitt 5.4.3 sowie für große HEMP-Simulatoren des Typ I und II in den Abschnitten 5.4.4.1 und 5.4.4.2 geändert. Diese Prüfungen der Norm sind dafür vorgesehen, die Störfestigkeit von elektrischen und elektronischen Einrichtungen (Geräten) zu zeigen, wenn diese gestrahlten und leitungsgeführten elektromagnetischen HEMP-Störgrößen ausgesetzt sind.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 61000-4-25 (VDE 0847-4-25):2013-01 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Es wurden Toleranzangaben bei den Festlegungen für kleine Prüfeinrichtungen für HEMP-Störfestigkeitsprüfungen im Abschnitt 5.4.3 sowie für große HEMP-Simulatoren des Typ I und II in den Abschnitten 5.4.4.1 und 5.4.4.2 geändert.
