Norm
[AKTUELL]
OVE EN IEC 60749-30
OVE EN IEC 60749-30
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen ((IEC 60749-30:2020) EN IEC 60749-30:2020) (deutsche Fassung)
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing ((IEC 60749-30:2020) EN IEC 60749-30:2020) (german version)
