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Technische Regel [AKTUELL]

EIA JEP 194
Guideline for Gate Oxide Reliability and Robustness Evaluation Procedures for Silicon Carbide Power MOSFETs

Titel (englisch)

Guideline for Gate Oxide Reliability and Robustness Evaluation Procedures for Silicon Carbide Power MOSFETs

Ausgabe 2023-02

Originalsprache Englisch

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